[NI WEEK 2018]자율주행차 시대 테스트 방법론도 진화

내쇼날인스트루먼트(NI)가 자율주행차, 전기차, 커넥티드카 형태로 진화하는 자동차 업계 트렌드에 맞춰 다양한 테스트 솔루션을 제시했다.

23일(현지시간) 미국 텍사스주 오스틴에서 열리는 연례 콘퍼런스 'NI위크 2018'에서는 다양한 오토모티브 테스트 솔루션이 주요 화두로 등장했다.

NI 얼라이언스 파트너사인 LHP엔지니어링솔루션스는 가시광통신(VLC)과 라이파이(Lifi) 기술을 보유한 AASA, 소프트웨어 업체인 PTC와 함께 NI 솔루션 기반의 차량용 보안 시스템을 선보였다. LiFi는 발광다이오드(LED)에서 나오는 빛의 파장을 이용해 정보를 전달하는 가시광통신이다. 외부에서 브레이크나 스티어링휠을 조작하려는 해킹이 시도되면 LiFi를 통해 시스템이나 다른 차량에 신호를 보낼 수 있다. 이 시스템은 NI의 산업용 컨트롤러인 컴팩트리오(CompactRIO)와 소프트웨어인 랩뷰를 기반으로 구현됐다.

LHP엔지니어링솔루션즈는 가시광통신(VLC)과 라이파이(Lifi) 기술을 보유한 AASA, 소프트웨어 업체인 PTC와 함께 NI 솔루션 기반의 차량용 보안 시스템을 선보였다
LHP엔지니어링솔루션즈는 가시광통신(VLC)과 라이파이(Lifi) 기술을 보유한 AASA, 소프트웨어 업체인 PTC와 함께 NI 솔루션 기반의 차량용 보안 시스템을 선보였다

전기차 배터리팩 테스트를 위한 자동화 시스템도 전시됐다. IP67 등급의 방진·방수 기능을 제공하는 데이터 수집 기기인 필드DAQ 제품과 PXI(PCI eXtensions for Instrumentation) 모듈로 배터리 셀부터 팩 단위까지 실시간 충방전 효율을 모니터링할 수 있다. 이미 많은 국내외 배터리 제조사와 자동차 제조사가 NI 기반 배터리 테스트 솔루션을 채택해 사용하고 있다.

내쇼날인스트루먼트(NI) 솔루션으로 구현한 배터리팩 자동화 테스트 플랫폼.
내쇼날인스트루먼트(NI) 솔루션으로 구현한 배터리팩 자동화 테스트 플랫폼.

HILS(Hardware-in-the-Loop Simulation) 기반의 차량 테스트 솔루션도 시연했다. HIL은 실제로 동작하지 않고도 특정한 환경을 모사해 모의 실험을 가능하게 하는 장비다. 물리적인 실험에 따르는 위험과 테스트 시간을 대폭 줄일 수 있다. NI의 실시간 테스트 플랫폼인 베리스탠드(VeriStand)가 HIL 시스템 구성에 주로 사용된다. 일본 마쯔다자동차는 이번 NI 위크에서 NI 솔루션을 활용해 HIL 시스템을 구성해 테스트 소요시간을 90% 절감했다고 발표했다. NI 기반 HIL 시스템은 현대자동차와 아우디 등 많은 자동차 제조사에서 활용하고 있다.

자동차뿐만 아니라 항공·우주 산업에도 NI 솔루션이 쓰인다. 시에라네바다코퍼레이션(SNC)은 우주선 '드림체이서' 개발에 TSN(Time Sensitive Network) 기술이 적용된 NI 제품을 활용한다. 작은 기체 안에 복잡한 시스템을 융합하기 위해 정황석이 중요한 만큼 TSN 기술을 활용해 수천개 이상 채널에서 들어오는 데이터를 실시간으로 동기화해 수집한다.

시에라네바다코퍼레이션(SNC)은 우주선 '드림체이서' 개발에 TSN(Time Sensitive Network) 기술이 적용된 NI 제품을 활용한다.
시에라네바다코퍼레이션(SNC)은 우주선 '드림체이서' 개발에 TSN(Time Sensitive Network) 기술이 적용된 NI 제품을 활용한다.

자율주행차 대중화 시대를 앞두고 다양한 정책과 규제가 도입되는 과정에서 오토모티브 테스트 솔루션 중요성은 더욱 부각될 것으로 보인다. 잇따른 자율주행차 사고로 안전성에 대한 기준이 높아지면서 평가 항목이 늘어나고 있어 개발 기간을 단축하려면 각종 자동화된 테스트 솔루션이 필요해지기 때문이다.

사우스캐롤라이나대학 법학 교수이자 자율주행차 관련 법 전문가인 브라이언트 워커 스미스는 NI위크 기조연설에서 “자율주행차 개발뿐만 아니라 여기에 맞는 법과 규제 제정이 함께 이뤄져야 한다”면서 “자율주행 기술 혁신 만큼 안전성을 확보할 수 있는 기술 혁신이 함께 필요하다”고 말했다.

오스틴(미국)=

정현정 배터리/부품 전문기자 iam@etnews.com