반도체 테스트 장비 분야 글로벌 선도기업 아드반테스트(Advantest)가 인공지능(AI) 및 데이터센터 등에서 수요가 급증하는 고성능 메모리 디바이스 테스트 요구에 부응하는 차세대 메모리 핸들러 'M5241'을 10일 공식 발표했다. 첫 출하는 2026년 2분기로 예정돼 있으며, 이미 여러 대형 메모리 제조사가 도입을 준비 중이다.
M5241은 아드반테스트의 메모리 테스트 셀 전략의 최신 진화형으로, 초고속 DRAM 테스터 'T5801'과의 수직 도킹을 지원하며, 기존 테스터(T5833, T5503HS2, T5835)와도 호환된다. 이를 통해 고객은 기존 설비를 최대한 활용할 수 있다.
핸들러의 새로운 온도 제어 아키텍처와 옵션인 액티브 서멀 컨트롤 기능은, 발열이 큰 첨단 메모리 IC도 정확하고 안정적으로 테스트할 수 있는 환경을 제공한다. 이로써 제품의 수율과 신뢰성 향상에 기여한다.
M5241은 최대 512개 병렬 테스트 사이트, 시간당 최대 46,000개 유닛 처리, -40°C~+125°C(표준) 또는 -55°C~+150°C(확장)의 온도 범위를 지원한다.
아드반테스트는 고정밀 온도 제어 기술을 통해 차세대 메모리 발열 특성을 안정적으로 관리할 수 있도록 했으며, 자동 복구 기능과 독자적 디바이스 위치 오차 감지 기술을 적용해 생산라인 가동 효율을 크게 높였다. 이로써 잼(JAM) 발생을 최소화하고 업계 최고 수준의 가동률을 실현했다. 유지보수 측면에서도 자동 오리진 서치, 원터치 체인지 키트 등 다양한 기능을 통해 유지보수 시간을 기존 대비 4분의 1 수준으로 단축해 운영비 절감 효과를 제공한다.
또 이 장비는 스마트 팩토리 환경과의 호환성을 고려해 설계돼 표준 공장 내 운송 시스템(OHT)과 로봇 장비 사용이 가능하며, 옵션 소프트웨어 HM360을 적용할 경우 자동화, 데이터 시각화, 예지보전 기능까지 지원한다.
아드반테스트는 이번 신제품을 오는 17~19일 도쿄 빅사이트에서 개최되는 'SEMICON Japan' (부스번호: E4346)에서 선보일 예정이다.
김현민 기자 minkim@etnews.com
