디아이(대표 변재현 http://www.di.co.kr)는 반도체 검사장비인 번인 시스템 장비를 핵심 주력 제품으로 제조 및 판매하고 있다. 이 회사의 주요 제품으로는 메모리 디바이스의 품질을 검사하는 테스트 번인 테스터(TBT)와 초기 불량제품 검출로 수율 향상과 비용 절감에 기여하는 웨이퍼 번인 테스터(WBT)를 들 수 있다.
TBT는 패키지된 메모리 디바이스의 신뢰성을 검사하는 장비로 2003년 국산화에 성공했으며 발빠르게 대만 주요 메모리 업체를 공략함으로써 해외수출에 성공했다. 또 제1회 대한민국 반도체 기술대상에서 최고의 기술을 인정받아 ‘최첨단 기술상’, 제42회 무역의 날 행사에서 2000만달러 수출탑 및 국가유공자부문 국무총리상을 수상했다.
최근에는 전자수출 1000억달러 달성 기념행사에서 산업자원부 공로패를 수상함으로써 TBT는 기술성과 시장성면에서 명실상부한 세계 일류 제품으로 거듭나고 있다.
또 메모리 칩에 스트레스를 가해 초기 불량품을 걸러내는 WBT 장비도 생산하고 있다. 특히 디아이는 기본적인 WBT 기능 외에 메모리 셀 내부의 불량을 찾아내고 분석 후 수리하는 리던던시 애널리시스(redunduncy analysis) 기능 등 대부분의 주검사 기능을 갖춘 신제품(모델명 WBT-3500)을 최근 선보였다. 이 제품은 지난 2005년 국내 검사장비 업체로는 최초로 해외 수출에 성공한 기존 WBT 장비를 개발한 기술력을 바탕으로 약 1년의 개발 기간을 거쳐 빛을 보았다.
WBT-3500은 주검사장비 기능 대부분을 구현할 수 있도록 개발됐기 때문에 D램과 S램·낸드플래시 및 노어플래시 등 다양한 디바이스 검사가 가능한 장비다. 성능면에서도 주검사장비 방식의 ALPG와 페일 메모리 기능 구현, 폭넓은 어드레스와 데이터 표현, 옵션 테스트 핀 추가 제공과 DC 채널 확장을 통한 테스트 시간 단축 등 경쟁사 대비 차별화된 장점을 갖고 있다.
이 장비는 주검사기 장비시장에 수입 대체 효과 유발이 기대된다. 내년에는 국내 및 해외 판매로 5000만달러 매출이 예상되며 향후 디아이 번인 시스템 세계 시장점유율은 WBT-3500의 호조로 전체 매출의 50%까지 대폭 상승할 전망이다.