로옴, 고내압 GaN 디바이스 구동에 최적인 '절연 게이트 드라이버 IC' 개발

로옴, 고내압 GaN 디바이스 구동에 최적인 '절연 게이트 드라이버 IC' 개발

로옴(ROHM) 주식회사(이하 로옴)는 600V 클래스의 고내압 GaN HEMT 구동에 최적인 절연 게이트 드라이버 IC 'BM6GD11BFJ-LB'를 개발했다고 밝혔다.

에너지 소비가 나날이 증가하는 가운데, 저전력 대책은 전 세계 공통 과제로 떠올랐다. 특히 모터나 전원은 전 세계 전력 소비량의 약 97%를 차지하는 것으로 알려져 있다. 이 과정에서 SiC(실리콘 카바이드 : 탄화 규소) 및 GaN(갈륨 나이트라이드 : 질화 갈륨) 등 신재료를 사용하여 전력 제어 및 변환을 실행하는 차세대 파워 디바이스가 기기의 효율을 개선할 수 있는 키 디바이스로 떠오르고 있다.

이에 로옴은 실리콘 반도체 및 SiC용 절연 게이트 드라이버 IC 개발로 축적해온 노하우를 활용하여, GaN 디바이스 구동에 특화된 절연 게이트 드라이버 IC의 첫번째 신제품을 개발했다. 이번 신제품과 GaN 디바이스를 조합하여 사용하면 GaN 디바이스의 고주파·고속 스위칭 시 안정적인 구동을 실현하여 모터 및 서버 전원 등 대전류 어플리케이션의 소형화와 고효율화에 기여할 수 있다.

'BM6GD11BFJ-LB'는 로옴 최초의 고내압 GaN HEMT용 절연 게이트 드라이버 IC로, 급격한 전압 상승 및 강하를 반복하는 스위칭 동작 시 디바이스와 제어 회로를 분리하여 안전한 신호 전달을 실현한다. 독자적으로 개발한 on-chip 절연 기술을 사용함으로써 기생 용량을 저감하여 최대 2MHz의 고주파 구동을 실현했다. GaN 디바이스의 고속 스위칭 성능을 최대화시켜 어플리케이션의 저전력화와 고성능화에 기여할 뿐만 아니라, 주변부품을 소형화할 수 있어 실장 면적을 줄일 수 있다.

또한, 절연 게이트 드라이버 IC의 노이즈 내성을 나타내는 공통 모드 과도 내압(CMTI)은 기존품 대비 1.5배에 해당하는 150V/ns로, GaN HEMT 스위칭 시 우려되는 높은 slew rate에서의 오동작을 방지하여 안정적인 제어를 지원한다. 최소 펄스 폭은 기존품 대비 33% 축소, ON 시간은 최소 65ns로 단축했다. 이에 따라 고주파화 시에도 최소 Duty 비를 확보할 수 있어, 손실 저감을 최소한으로 억제할 수 있다.

GaN 디바이스의 게이트 구동 전압 범위는 4.5V~6.0V, 절연 내압은 2500Vrms로, 로옴의 EcoGaN™ 시리즈의 새로운 라인업인 650V 내압 GaN HEMT 'GNP2070TD-Z'를 비롯하여, 다양한 고내압 GaN 디바이스의 성능을 최대화시킬 수 있다. 출력 측의 소비전류는 0.5mA (최대)로 업계 최고 수준의 저소비전력 성능을 달성하여, 대기전력도 삭감할 수 있다.

로옴 관계자는 “향후 GaN 디바이스 구동용 게이트 드라이버 IC를 GaN 디바이스 제품과 세트로 제공하여, 어플리케이션 설계의 용이화에도 기여해 나갈 것”이라고 전했다.

신제품은 올해 3월부터 양산을 개시했으며 CoreStaff™ Online, Chip 1 Stop™ 등 온라인 부품 유통 사이트에서 구입 가능하다.

임민지 기자 minzi56@etnews.com