국제 <외신다이제스트> 美테라다인, 새 반도체 검사 기술 발표 발행일 : 1998-04-10 18:19 공유하기 페이스북 X(트위터) 메일 URL 복사 글자크기 설정 가 작게 가 보통 가 크게 (베드포드<美매사추세츠州>=AsiaNet聯合) 미국 테라다인의 인테그라 검사 사업부는 혁신적 반도체 검사기술인 「인테그라 J750」 검사 시리즈를 최근 발표했다. 테러다인이 이번에 발표한 검사 시리즈는 최신 PC기술과 윈도NT 운영체계가 갖고 있는 성능에 마이크로소프트 엑셀, 비주얼 베이직 등 표준 윈도 생산도구들의 친숙성을 결합시킨 반도체 자동검사장비산업(ATE)분야 최초의 검사개발 슈트이다.