[화요특집-전자통신 계측기] 반도체용 계측기.. 인서키트 테스트 시스템

반도체 생산확대에 힘입어 리니어 IC계측기, 디지털 IC계측기, 메모리 IC계측기 등 반도체용 계측기기 시장이 급신장하고 있다.

또 플래시메모리 시장형성과 IC 제조업체들의 마이크로프로세서, 디지털 디바이스, 디지털신호처리(DSP)분야 진출확대, 디지털 및 통신관련 고주파 디바이스 시장확대 등으로 시장이 확대되고 있다.

이와 함께 HDTV와 고가의 OA시스템 생산, LCD 계기반과 전자제어장치(ECU) 기술과 연계된 자동차부문 수요 등으로 보드검사 장비시장도 증가세를 유지할 것으로 전망된다.

한국HP는 전자제품 생산라인에서 픽스처(Fixture)를 통해 전기적 노드 접속으로 인쇄회로기판(PCB)의 불량을 검색, 테스트를 자동으로 수행하는 3세대 내부회로 테스트시스템(3070시리즈 Ⅲ)을 출시했다.

통신 단말기 및 PC 제조과정에 적합한 이 장비는 픽스처를 통한 전기적 접근방식이 감소하는 추세에 따라 바운더리 스캔(Boundary Scan) 기술을 사용, 인 서키트 테스트 기능을 확장했고 플랫 패널(Flat Panel) 모니터를 시스템에 통합하고 있다. 또한 플래시 디바이스를 위해 데이터북 수준의 프로그래밍 속도를 제공하며 신속하게 플래시 프로그램을 개발하게 하는 프로그램 라이브러리를 갖추고 있어 디바이스 결함을 줄일 수 있다. 이외에도 이중웰(Dueal Well) 테스트 핸들러를 채용, 테스트 셀을 통해 PCB의 테스트 처리속도를 증가시키고 픽스처 교체시간을 최소화해 준다.