KAIST, 메모리 단위 소재 전기 켜지고 꺼지는 찰나 포착... 차세대 메모리 반도체 소재 혁신 기대

사진 왼쪽부터 김창환 석박사통합과정, 김승환 박사과정, 허남욱 석박사통합과정, 서준기 교수, 조영석 박사과정.
사진 왼쪽부터 김창환 석박사통합과정, 김승환 박사과정, 허남욱 석박사통합과정, 서준기 교수, 조영석 박사과정.

인공지능(AI)이 발전할수록 컴퓨터에는 더 빠르고 효율적인 메모리가 요구된다. 초고속·저전력 반도체 핵심은 메모리 소재가 전기를 켜고 끄는 '스위칭' 원리에 있다.

이런 가운데 한국 연구진이 아주 작은 전자 소자 안에서 물질을 순간적으로 녹였다가 얼리는 실험을 통해, 그동안 직접 관찰하기 어려웠던 스위칭 순간과 내부 작동 원리를 밝혀냈다. 더 빠르고 전기를 덜 쓰는 차세대 메모리 신소재를 원리 기반으로 설계할 수 있는 기준을 제시했다.

한국과학기술원(KAIST·총장 이광형)은 서준기 생명화학공학과 교수팀이 이태훈 경북대 교수팀과 공동연구로, 기존에는 관찰이 어려웠던 나노 소자 내부 전기 스위칭 과정과 물질 상태 변화를 실시간으로 포착할 수 있는 실험 기법을 개발했다고 8일 밝혔다.

연구팀은 전기 스위칭을 확인하기 위해 물질을 순간적으로 녹였다가 빠르게 식히는 방식을 적용했다. 이를 통해 그동안 열에 민감해 전기를 흘리는 순간 성질이 쉽게 변하던 텔루륨을, 머리카락보다 훨씬 작은 나노 소자 안에서 '유리처럼 불규칙한 상태의 비정질 텔루륨'으로 안정적으로 구현하는 데 성공했다. 비정질 텔루륨은 더 빠르고 전기를 덜 쓰는 차세대 메모리의 핵심 재료로 주목받고 있다.

이번 연구를 통해 연구팀은 스위칭이 시작되는 전압과 열 조건, 그리고 에너지 손실이 발생하는 구간을 구체적으로 파악했다.

그 결과, 비정질 텔루륨에서는 내부의 미세한 결함이 전기 전도에 중요한 역할을 한다는 사실을 확인했다. 전압이 일정 수준을 넘으면 전기가 한 번에 흐르는 것이 아니라, 먼저 결함을 따라 전류가 급격히 증가하고 이후 열이 축적되며 물질이 녹는 두 단계 스위칭 과정이 나타났다.

또 연구팀은 전류를 과도하게 흘리지 않고도 비정질 상태를 유지한 채 실험을 진행해, 전압이 스스로 커졌다 작아지는 '자가 진동' 현상을 구현하는 데 성공했다. 이는 복잡한 재료 조합 없이 텔루륨 단일 원소만으로도 안정적인 전기 스위칭이 가능함을 보여준다.

이번 연구 결과는 향후 더 빠르고 전기를 덜 쓰는 메모리를 구현하기 위한 반도체 소재 설계의 중요한 지침으로 활용될 것으로 기대된다.

서준기 교수는 “비정질 텔루륨을 실제 소자 환경에서 구현하고 스위칭 원리를 규명한 첫 연구”라며 “차세대 메모리 및 스위칭 소재 연구의 새로운 기준을 제시했다”고 말했다.

허남욱 석박사통합과정이 제1저자로, 김승환 박사과정이 제2저자로 참여했으며, 서준기 교수(KAIST)가 교신저자로 참여한 이번 연구 결과는 네이처 커뮤니케이션즈에 1월 13일 자 온라인판 게재됐다.

김영준 기자 kyj85@etnews.com