[NEPCON 2011] 고영테크놀러지, 세계 최초 3D 검사 AOI장비 개발

[NEPCON 2011] 고영테크놀러지, 세계 최초 3D 검사 AOI장비 개발

 국내 기업이 3D기술을 활용해 인쇄회로기판(PCB) 외관을 검사하는 고정밀 자동광학검사장비(AOI)를 세계 최초로 개발했다.

 고영테크놀러지(대표 고광일)는 실장 부품을 장착한 PCB 외관을 3D 기법으로 검사할수 있는 AOI 장비 ‘제니스(Zenith)’를 개발, 세계시장 공략에 나선다고 밝혔다.

 기존 AOI 장비는 2차원 광삼각법 방식을 채택, PCB 불량 유무 검사시 PCB에 빛을 쏜 후 센서를 통해 접수된 반사각의 값을 분석해 검사하는 방식을 택했다. 하지만 그림자나 난반사 등이 발생, 정밀한 검사가 어려웠다.

 이번에 개발된 ‘제니스’는 물결무늬라는 뜻의 ‘모아레(Moire)’ 방식을 채택, 빛의 간섭원리를 이용해 신호를 증폭시켜 보다 정밀한 분석을 가능토록 했다. 총 8개의 프로젝션 유닛을 장착해 사각 지대도 최소화 했다.

 이 제품은 Z축 측정이 가능하다. PCB에 조립된 솔더(Soder)의 결합, 패턴, 눈에 보이지 않는 구멍(Hole), 기판 위의 이물질도 측정하고 화면을 통해 분석 값을 확인할 수 있다.

 고광일 대표는 “제니스를 통해 전자 제품 생산시 가성 불량은 줄이고, 진성 불량은 정확하게 발견할 수 있다”며 “기존에 확보하고 있는 인쇄 후 납포도 검사(SPI) 장비 고객이 자연스럽게 AOI 장비 고객으로 이동하게 될 것”이라고 말했다.

 고영테크놀러지는 이미 지난해에 인쇄회로기판의 납땜 위치와 도포량을 측정하는 SPI장비에도 3차원 기술을 적용해 일본의 히타치, 캐논, 도요타 자회사인 덴소 등에 공급해왔다.

 도쿄(일본)=박태준기자 gaius@etnews.co.kr